大面積太陽(yáng)光模擬器廣泛應(yīng)用于材料老化性能測(cè)試，太陽(yáng)能電池特性測(cè)試，特殊照明，光電材料特性測(cè)試，生物化學(xué)相關(guān)測(cè)試，光學(xué)催化降解加速研究，皮膚化妝用品檢測(cè)，環(huán)境研究等。作為衡量產(chǎn)品的技術(shù)指標(biāo)，光源與真實(shí)陽(yáng)光的一致性從光譜分布、積分強(qiáng)度均勻性，和光輻射狀態(tài)的穩(wěn)定性三個(gè)方面考量。
1、光譜分布
標(biāo)準(zhǔn)光譜定義：光對(duì)材料穿透和反射后的光譜和強(qiáng)度均會(huì)發(fā)生變化，太陽(yáng)輻射到達(dá)地球外層空間后，光輻射強(qiáng)度和光譜分布相關(guān)于太陽(yáng)輻射角度和測(cè)量高度，比如地球外空間、地球大氣層和地球海平面的光輻射譜線分布和譜線積分獲得的輻照強(qiáng)度截然不同。所以，在ASTMG173-03和IEC60904-3中具體規(guī)范了一種全球通用的太陽(yáng)入射角度和測(cè)量海平面高度的標(biāo)準(zhǔn)定義AM1。5。依據(jù)穩(wěn)態(tài)陽(yáng)光模擬光源在幾個(gè)光譜段與真實(shí)陽(yáng)光的差異劃分等級(jí)，士25%內(nèi)*；±40%內(nèi)B級(jí)；-60%~100%C級(jí)。
2、大面積太陽(yáng)光模擬器均勻度
陽(yáng)光模擬光源發(fā)出的射線也需要均勻，以能夠很好的模擬真實(shí)陽(yáng)光，它的均勻度通過(guò)測(cè)量按一定規(guī)則選取的一系列點(diǎn)上的光強(qiáng)評(píng)判。測(cè)量點(diǎn)依據(jù)IEC60904選取，將輻射目標(biāo)區(qū)域等分成64份或400mm2的較小等份，在每等份中央的點(diǎn)測(cè)量光強(qiáng)值，依據(jù)這些點(diǎn)中大值與小值的差與和的商的百分?jǐn)?shù)劃分等級(jí)：2%以內(nèi)*；5%以內(nèi)B級(jí)，10%以內(nèi)C級(jí)；
3、穩(wěn)定度
通過(guò)測(cè)量穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬器在一段時(shí)間內(nèi)光強(qiáng)，依據(jù)大值小值的差與和的商的百分?jǐn)?shù)劃分：2%以內(nèi)*；5%以內(nèi)B級(jí)，10%以內(nèi)C級(jí)。
大面積太陽(yáng)光模擬器光源等級(jí)對(duì)測(cè)試的影響：
光伏行業(yè)發(fā)展初期，晶體硅電池和組件達(dá)到批量化生產(chǎn)時(shí)，BA*的模擬器被行業(yè)普遍使用，但隨著行業(yè)的發(fā)展和科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，尤其是現(xiàn)在各種不同技術(shù)類(lèi)型和不同規(guī)格的光伏電池/組件的產(chǎn)品的涌現(xiàn)，其B級(jí)光譜的限制性和對(duì)多標(biāo)準(zhǔn)板的要求以及測(cè)試誤差的過(guò)大，對(duì)AA*的模擬器成為行業(yè)的必然需求，即A（光譜等級(jí)）A（輻照不均勻度等級(jí)）A（輻照不穩(wěn)定性等級(jí)，通常指LTI）。
1。光譜對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響
不同基材的電池光譜響應(yīng)差別很大。實(shí)際上，即使基材相同的電池在生產(chǎn)過(guò)程中由于晶體生長(zhǎng)或其它條件和工藝等的差異，也會(huì)導(dǎo)致光譜響應(yīng)的差異。由于無(wú)法保證校準(zhǔn)設(shè)備時(shí)使用的標(biāo)準(zhǔn)電池和其它被測(cè)電池的一致性，因此如果要得到更為準(zhǔn)確的結(jié)果，就需要高等級(jí)光譜的太陽(yáng)模擬器。
2。光強(qiáng)均勻性對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響
晶體硅太陽(yáng)電池組件中單體電池之間焊接不良及同串單體電池IV特性不匹配等因素會(huì)導(dǎo)致輸出功率降低。在工業(yè)上，為了防止由以上原因造成的熱斑效應(yīng)和功率消耗，在組件制造時(shí)一般都會(huì)在每十幾片串聯(lián)的電池片兩端并上旁路二極管。這樣做雖可降低組件的熱斑效應(yīng)，但同時(shí)也可能會(huì)使組件的IV特性曲線出現(xiàn)畸變。造成熱斑效應(yīng)的原因有很多，其中兩個(gè)主要的原因是：一是電池組件本身工藝或品質(zhì)造成的單體電池IV特性不匹配，二是遮蓋等外界原因造成的組件受光不均勻。
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